Reliability, testing and characterization of MEMS/MOEMS III - 26-28 January 2004, San Jose, California, USA
- Författare
- (Danelle M. Tanner, Rajeshuni Ramesham, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 2004 | USA | 312 sidor. | 0-8194-5251-3 |